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JCM-7000臺式掃描電子顯微鏡
JCM-7000臺式掃描電子顯微鏡是日本電子最新推出的一款臺式掃描電子顯微鏡，其不僅繼承了日本電子大型掃描電鏡的優秀功能，相對于大型掃描電鏡它還操作簡單，維護保養容易，體積小巧，價格低廉，檢測速度快，從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能，更人性化的服務于您的研究和工作。￥ 0.00立即購買
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JED-2300/2300F 能譜儀
JED-2300/2300F Analysis Station是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統。通過與SEM的馬達驅動樣品臺聯動使用，可以進行大范圍的觀察和分析。 EDS通過檢測被電子束激發出的樣品特征X射線，確定樣品含有的元素及成分比，可以進行微區的點分析、線分析及面分析。￥ 0.00立即購買
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JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡
以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。￥ 0.00立即購買
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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
JEM-ARM300F實現了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發的球差校正器，最高加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。￥ 0.00立即購買
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JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡
為了響應近來已成為主流的遠程操作的需求，NEOARM的電鏡室和操作室實行了分離式，主機使用了JEOL的新概念顏色—純白色和JEOL銀色，設計精煉時尚。￥ 0.00立即購買
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JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡
多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能優越，操作方便，簡明易懂，能在材料、醫學、生物學等多個研究領域提供優異的解決方案。￥ 0.00立即購買
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